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快门检测仪SLE-3700
快门检测仪SLE-3700
高精度波形メモリー解析方式のレンズシャッター试験机
The lens shutter tester of a high precision waveform memory analysis scheme
闭じ动作検出点设定机能、バウンド検出机能搭载
绞り口径误差测定
15回/秒の连続测定対応
Closing detect pointe setting function and bound detect function
Iris diaphragm caliber error measurement
15times/second continuous measurement correspondence
高精度波形メモリー解析方式のレンズシャッター试験机
The lens shutter tester of a high precision waveform memory analysis scheme
闭じ动作検出点设定机能、バウンド検出机能搭载
绞り口径误差测定
15回/秒の连続测定対応
Closing detect pointe setting function and bound detect function
Iris diaphragm caliber error measurement
15times/second continuous measurement correspondence
快门检测仪SLE-3700
高精度波形メモリー解析方式のレンズシャッター试験机
The lens shutter tester of a high precision waveform memory analysis scheme
- 闭じ动作検出点设定机能、バウンド検出机能搭载
- 绞り口径误差测定
- 15回/秒の连続测定対応
- Closing detect pointe setting function and bound detect function
- Iris diaphragm caliber error measurement
- 15times/second continuous measurement correspondence
仕様 / Specifications
| 被测定物（Measurement shutter） | The shutter unit for digital cameras |
| 测定项目（Measuring items） | Full open time（T1） Closing operating time（T2） Effective time of exposure（TE） Aperture value（Av） Difference of exposure value or difference of aperture value （⊿EV） |
| T2闭じ动作検出点（T2 Point detecting [closing operation]） | 0-100%, 5-95%, 10-90%, 15-85%, 20-80% |
| 测定有効绞り口径（measuring effective aperture diameter） | φ14.0〜φ1.0 |
| 测定范囲（Measuring range） | ±4EV（light exposure error） 1〜11AV （Apature value） 1/30〜1/4,000s（Time of exposure） |
| 测定精度（Measurement accuracy） | ±15μs（At the time of a second） ±0.05EV（Aperture value, Exposure value） ±0.03EV（IRIS mode Aperture value measurement） |
| 电源（Power Supply） | AC100〜240V（50Hz/60Hz）・90VA |
| 外形寸法（Dimensions） | Control unit 130（W）×127（H）×286（D）mm・5kg Light Source and Receptor 90（W）×169（H）×304（D）mm・2kg |
| 外部インターフェース（External interface） | RS232C |
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